Умная наноинспекция, взгляд в будущее! Unicomp Technology AX9600 удостоен награды EM Innovation Award
2026/03/28
26 марта 2026 года в Шанхае состоялась 21-я церемония вручения премии EM Innovation Awards.
Благодаря передовым возможностям, включая «захват полных дефектов на уровне 0,8 мкм, наноразмерное изображение и полнодиапазонный интеллектуальный ИИ-контроль»,
рентгеновская система AX9600 компании Unicomp Technology получила премию EM Innovation Award.
Открытая рентгеновская трубка Unicomp
Интеллектуальное инспекционное оборудование для полупроводников AX9600
Интеллектуальное инспекционное оборудование для полупроводников AX9600
Оснащенная разработанным Unicomp собственным 160-киловольтным рентгеновским источником с микрофокусом открытого типа, она легко удовлетворяет требованиям к инспекции ИИ-вычислительных чипов, таких как HBM и GPU, а также приложений для передовой упаковки.
• Супер увеличение 2000X • Высокодетализированное изображение в реальном времени
• Всенаправленный контроль на 360° • Автоматическое измерение дефектов с помощью ИИ
Являясь высокопрестижной наградой в индустрии производства электроники,премия EM Innovation Award выбирает поставщиков, внесших выдающийся вклад в развитие и инновации сектора,
на основе семи критериев, включая инновационный потенциал, повышение производственных мощностей и усовершенствование процессов.
Это признание подчеркивает, что высокая производительность AX9600 получила высокую оценку как со стороны отрасли, так и со стороны рынка,а также демонстрирует полное доверие и сильное предпочтение промышленных клиентов к Unicomp Technology.
